Titelaufnahme

Titel
Highly Focused Low Energy Ion Beam : Secondary Electron Measurements of Molybdenum Sputtering Targets
VerfasserDrost, Manuel
Betreuer / BetreuerinnenScheier, Paul
Erschienen2019
HochschulschriftInnsbruck, Univ., Masterarb., 2019
Datum der AbgabeJanuar 2019
SpracheEnglisch
DokumenttypMasterarbeit
Schlagwörter (DE)Ionen / Fokus / Simulation / SIMION / Sputtering / Sekundärelektronen / Linsendesign
Schlagwörter (EN)Ions / Focus / Simulation / SIMION / Sputtering / Secondary electrons / Lens design
Zugriffsbeschränkung
 Das Werk ist online nicht zugreifbar
Links
Nachweis
Klassifikation